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[技术]可靠怀试验评价技术发展

文章出处:http://www.mkyd.net [2011/3/10 9:35:04]
责任编辑:进口仪器仪表技术部
作者:进口仪器仪表
可靠性住址试验是基于故障物理原理和计算机技术,利用住址分析软件,对实际的或设想的设备进行数字模型可靠性分析、计算的过程。所谓故障物理,是指从物理、化学的微观结构角度出发,研究材料、零件(元器件)和结构的故障机理,并分析工作条件、环境应力及时间对产品性能退化或故障的影响。 
  可靠性住址何以达到四个目的:一是通过软件在电子样机上施加产品所经历的载荷历程,分解到产品的基本模块上,进行应力应力损伤分析,从而找出产品的设计薄弱环节;二是通过仿真预计产品的失效时间分布,揭丑和辅助可靠性设计优化;三是通过可靠性仿真量化,比较设计方案;四是可为可靠性强化试验、加速增长试验和可靠性综合评价提供支持和依据。
  可靠性仿真试验适用于模块级和LRU级关键重要的新研电子产品或有电子组件的机电设备,同一研制单位具有相似设计的产品原则只选取一个典型设备,具体在试验方案中规定。可靠怀仿真试验在C型件的研制阶段。
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