1ST6700型微处理器测试仪是美国IST公司开发的一种低成本，独立的测试设备，提供基于微处理器系统电路板的自动与手动的检测和排障功能，可对所有的8/16位微机进行真正的仿真在线测试，用于微机和智能型仪器，自动化设备的软硬件分析和故障检测。8位机包括：8085，6502，Z8OA/B，8088，8031，8051，8048，8049，8748，8749，8751、8039，6800，68U2、6809，1802
16位机包括：8086，80188，80286，68000，68010，Z8000
IST6700型测试仪的“0NEBUTT0N”测试功能：RAM提供四种选择：存储单元测试、写测试。存储器检验，读测试。存储单元测试
通过输送方格噪声测试图形到用户指定的地址范围，执行读写功能测试。
ROM测试按用户指定的地址范围统计ROM内容。
I/O测试提供二项测试选择：I/0读，I/0写。
总线测试自动测量和显示UUT电源电压，CPU时钟，CPU内部的地址和数据总线。此测试可检测到任意总线的“高电平粘连”或“低电平粘连”，或与其它总线短路。
总线记忆扫描能显示被探测的地址或控制线的记忆符号，若其它线与被测线粘连，此线的符号将显示出来。全运行“签字”分析由指定CPU地址线的低有效位到高有效位触发，在每个地址位置，发出一个控制信号。此操作重复进行，则每个特定结点的逻辑将持续下去。用户可选择8种不同的控制信号方式中的任意一种：(1)存储器写/读(2)I/0写/读(3)存储器和I/0写 (4)存储器和I/0读(5)存储器写(6)存储器读(7)I/0写(8)I/O读。部分运行“签字”分析 除地址范围由用户指定外，其它与全运行功能相同。大大减少了测试时间和在电路上的注意力。1ST6700的操作十分简单，上述的测试在设定后，只需按—下TESTSTART键即可完成。全部测试，如果有任意的失败，6700将指导用户通过使用预先存储好的详细“追踪诊断”，模式一即信号分析或总线记忆扫描测试的排障过程，指导用户操作。用户则根据显示的指令移动探头夹，然后按下ENTER’键，6700将按要求自动执行全部的测试与探测。由于用户友好的界面和自动探测特性，6700则无需对操作人员进行专门培训或随机附加软件就可以掌握其使用。
产品特点
性能特点：80通道的探头夹，能够探测管脚数目多、引线间距小的IC。不必对管脚计数，也不会因滑动而导致短路。探头夹可支持SO，SOJ，PLCC和DIP等封装形式。自学习功能，将从被测板得到的数据与预先存储在电池后备的CMOSRAM或SRAM卡中的“已知好板”的数据进行比较。通用手持逻辑脉冲发生器／探测笔，和探测夹一起使用，可轻松的完成“激励—响应”测试。
示波器接口为实时显示每个被测管脚的波形提供通道。内置可编程计数器/时钟，可以通过编程在不同情况下触发。使用低成本的CPU Pcrsonality Pod，替代价格高昂的CPU槽口，支持绝大多数8位和16位微处理器。
低阻抗的短路检测器，具有脉冲注入分析功能，在电路加电的情况下，根据是与电源或地短
接，鉴别任意管脚“高电平粘连”或“低电平粘连”。循环测试可检测出周期性的错误。数字电压表连续显示被测管脚的DC电压值。电池后备的32K CMOS RAM，提供板测试数据的存储功能，也可装备SRAM存储卡插座，无限存储参考板的数据。
内置的可编程逻辑门限指示器，以单值图形显示不同的数字信号类型。多通路静态指示器瞬间整个IC的静态逻辑状态。实时CPU仿真测试可达12MHz，提供可编程时钟驱动被测板。提供单元到单元，管脚到管脚的错误自动人追踪能力。由存储已知好板的数据，对RAM，ROM和总线测试。总线扫描，全运行和部分运行提供元件级的自动详细诊断能力。内置的UUT+5V，40W电源，具有自动过流保护。提供数字IC的功能测试，连接上IC测试模块，6700成为一台功能强大的IC测试仪，可测到28管脚，产生千万个测试矢量，并使用信号分析技术收集输出数据。8种不同模式的信号分析。
提供常用的和功能强大的排障工具，快速而准确的隔离失效点，这些工具包括：在线电压表、逻辑脉冲发生器/探测笔、低阻抗的短路探测器，计数器，自动定时器、实时示波器接口。同时显示用户所需的信息，不必一一存取。