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高温N沟道电源场效应晶体管
  • 产品编号:MK-001212006055
  • 产品名称:高温N沟道电源场效应晶体管
  • 产品型号:HTANFET
  • 产品铭牌:美国HONEYWELL
  • 所属类别:安规测试仪
  • 生产产地:美国
  • 浏览次数:1402
  • 网上售价:特殊规格~请来电咨询 VIP会员价:请登陆
HTANFET是一种可靠性极强的N通道电源场效应晶体管(FET),专门为在极其广泛的温度范围用途而设计的,例如诸如井下使用仪器、航空电子设备、涡轮发动机和工业控
产品介绍
HTANFET是一种可靠性极强的N通道电源场效应晶体管(FET),专门为在极其广泛的温度范围用途而设计的,例如诸如井下使用仪器、航空电子设备、涡轮发动机和工业控制。该电源FET是用绝缘层上覆硅工艺生产的,在高温时大大降低了漏电。
直流大电流能力和低Rds-ON是这一部件适合用在直流电和开关用途。如果零件在高达+300℃的温度下工作一年,其性能会下降。所有的零件都经过250℃老化, 以防止生产次品。此外每个零件都在-55到+225℃的温度范围内性能可靠。HTANFET是AlliedSignal公司和霍尼韦尔公司共同推出的。
应用 
• 井下油井, 气体和地热井 
• 航空宇宙和航空电子设备 
• 涡轮发动机控制 
• 工业过程控制 
• 核反应堆 
• 电力转换 
• 重型内燃机
产品特点
• 额定温度:-55癈至+225癈 
• 持续输出电流可达1Amp 
• 典型输入电压可达90V 
• 绝缘层上覆硅(SOI) 
• 4引脚电源带式封装或 
• 带整体散热器的8引脚陶瓷Dip
规格与参数
电气特性-55°C至+225°C,除非有另外规格
符号
参数
测试条件
典型(1)
最糟情况
单位
最小
最大
V(BR)DSS
漏极-源极击穿电压
VGS = 0, ID = 100μADC
 
 
90
 
 
V
RDS(on)
静态漏极到源极导通电阻, Ta = 25℃
VGS = +5VDC, ID = 0.1A
0.4
 
 
Ù
VGS(th)
栅极阈值电压Ta = 25℃
VGS = VDC, ID = 100μA
1.6
 
2.4
V
IGSS
栅极到漏极正向泄漏
VGS = +5VDC
 
 
100
nA
栅极到漏极反向泄漏
VGS = -5VDC
 
 
-100
nA
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